行業(yè)產(chǎn)品

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賽默飛世爾科技（中國(guó)）有限公司



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經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：1324條

所在地區(qū)：上海上海市

聯(lián)系人：Tracy （市場(chǎng)）

  • Helios 6 HD Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

    詳細(xì)摘要： The Thermo Scientific Helios 6 HD FIB-SEM is designed to meet the industry need ...

    產(chǎn)品型號(hào)：Thermo Scientific所在地：更新時(shí)間：2024-08-15 在線留言

  • 用于半導(dǎo)體的 Helios G4 UC DualBeam

    詳細(xì)摘要： 科學(xué)家和工程師不斷面臨新的挑戰(zhàn)、需要對(duì)越來越復(fù)雜的樣品的更小特征進(jìn)行高度局部表征。Thermo Scientific HeliosG4 UC DualBeam ...

    產(chǎn)品型號(hào)：Thermo Scientific所在地：更新時(shí)間：2024-08-11 在線留言

  • 用于半導(dǎo)體的 Helios G4 CX DualBeam

    詳細(xì)摘要： 通常需要進(jìn)行亞表面或三維表征以更好地理解樣品的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。Thermo Scientific Helios G4 CX DualBeam 顯微鏡的創(chuàng)新，結(jié)合較易...

    產(chǎn)品型號(hào)：Thermo Scientific所在地：更新時(shí)間：2024-08-11 在線留言

  • 用于材料科學(xué)的 Helios™ G4 PFIB CXe DualBeam™ FIB/SEM

    詳細(xì)摘要： Thermo Scientific Helios G4 PFIB 可提供優(yōu)異的大體積 3D 表征、無 Ga+ 樣品制備和精密微加工能力。Helios G4 PF...

    產(chǎn)品型號(hào)：Thermo Scientific所在地：更新時(shí)間：2024-08-11 在線留言

  • 用于半導(dǎo)體的 Helios™ G4 PFIB Hxe DualBeam™

    詳細(xì)摘要： Thermo Scientific Helios G4 PFIB HXe DualBeam 系統(tǒng)提供的功能，除廣泛的其他大面積 FIB 處理應(yīng)用外，還能夠?qū)崿F(xiàn) ...

    產(chǎn)品型號(hào)：Thermo Scientific所在地：更新時(shí)間：2024-08-11 在線留言

  • 用于半導(dǎo)體的 Helios G4 PFIB UXe DualBeam

    詳細(xì)摘要： Thermo Scientific Helios G4 PFIB UXe DualBeam 系統(tǒng)提供的功能，除廣泛的其他大面積 FIB 處理應(yīng)用外，還能夠?qū)崿F(xiàn)半...

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